Огромная важность исследований спектральной отражательной способности лунной поверхности

Автор: 17.02.2015

Огромная важность исследований спектральной отражательной способности лунной поверхности была указана еще Ф. Ф. Петрушевским в его уже упоминавшемся «Плане физических исследований Луны», опубликованном в 1873 г. В этой замечательной для своей эпохи работе выдвигается мысль, что топографические исследования лунной поверхности (в то время уже весьма детальные и многочисленные) должны быть пополнены физическими исследованиями, в состав которых должны быть включены:
1) систематические измерения отражательной способности различных деталей лунной поверхности фотометрическим путем;
2) исследования отражательной способности в «химически», т. е. фотографически, наблюдаемой области спектра; 3) спектрофотометрические наблюдения, позволяющие изучать ход отражательной способности по спектру, и 4) поляризационные наблюдения. Для того чтобы полученные в результате таких наблюдений материалы могли быть использованы для суждений о природе лунной поверхности, необходимо провести аналогичные измерения для различных образцов земных горных пород, выполняя их как в лаборатории, так и в полевых условиях.
Для спектрофотометрических наблюдений Луны и земных объектов Ф. Ф. Петрушевский сконструировал специальный спектрофотометр, основанный на принципе визуального сравнения двух спектров: спектра данной детали и спектра интегрального света Луны. Он вложил много энергии и труда в дело организации работы по предложенному им плану, однако осуществить задуманные мероприятия ему все же не удалось, по-видимому, вследствие неблагоприятных условий для научной работы.